簡禎富;李培瑞;彭誠湧;
頁: 63-84
日期: 2003/07
卷期: 10(1)
關鍵字: 資料挖礦;決策樹;自我組織映射成圖網路;半導體製程;決策分析;
Keywords: data mining;decision tree;SOM;semiconductor manufacturing;decision analysis;
摘要: 在半導體製造程序中，許多資料會以自動或半自動方式記錄下來。包括產品的基本資料、過站時問與機台紀錄、機台設定參數、測試資料等。由於資料維度與數量龐大且混雜的雜訊等問題，傳統統計分析方法有其限制；而工程師亦往往無法從收集的龐大資料中，迅速有效地察覺可能導...

引用     導入Endnote